显微技术助力3C行业质量控制
 
显微技术助力3C行业质量控制
 
显微技术助力3C行业质量控制

“设备功能单一、测量不准、无法直接分析、效率低、漏掉缺陷、重复测试量大、无法通过触控交互?”——如果您实验室中的显微镜也遇到上述问题,那意味着,您正在智能制造转型升级的浪潮中,错过新机会。

但一切都还来得及,7月16日,下午2:00-3:00,蔡司工业显微镜高级产品工程师张文乐将带来《显微技术助力3C行业质量控制》的精彩分享,其中将就手机镜头、电子半导体、锂电子、显示屏幕等3C主要部件的质量控制挑战给出答案。

包括:带来了全新的人机交互体验的蔡司ZEISS Smartzoom 5转盘共聚焦显微镜、快速的无损亚微米级三维X射线显微镜蔡司Xradia 600 Versa系列、拥有高品质成像和卓越分析功能的场发射扫描电镜蔡司Sigma系列等产品将与大家见面。

值得一提的是,目前蔡司在包括智能穿戴、平板电脑、小家电等3C领域,已具备丰富的质量控制解决方案。

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显微技术助力3C行业质量控制
会议大纲
· 蔡司光学、电子和X射线显微镜基本原理介绍
· 蔡司如何实现高分辨高精度表面形貌和内部缺陷分析
· 如何利用显微技术分析产品失效根本原因,提高产品质量
· 3C行业不同领域具体应用案列讲解,
  涵盖电子电路、显示屏幕、手机镜头和锂电池等方面
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会议时间和地点
· 2020年7月16日14:00-15:00
· 蔡司专题网络研讨会
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演讲嘉宾
显微技术助力3C行业质量控制

张文乐
高级产品工程师

2013年毕业于中山大学,获得光学工程硕士学位; 毕业后加入蔡司,负责显微镜产品的售前售后支持,熟悉光学显微镜,扫描电镜,聚焦离子束等相关技术领域,长期服务于3C电子行业客户,为国内众多电子行业用户提供应用技术解决方案。

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